徠卡偏光顯微鏡是由德國著名的光學儀器制造商Leica Microsystems推出的一款高級顯微鏡。它專門設計用于觀察具有雙折射性質材料的樣品,并提供詳細和準確的信息。
.徠卡偏光顯微鏡是一種基于偏振光原理的特殊光學儀器,專為觀察具有雙折射特性的材料而設計。它通過起偏器和檢偏器的精密組合,能夠清晰揭示晶體結構、應力分布及各向異性物質的內部特征,在地質學、材料科學、生物學等領域具有重要應用價值。
該設備的核心在于其偏振系統:下偏光鏡將自然光轉化為線偏振光穿透樣品后,上偏光鏡作為分析器可調節角度以檢測不同方向的光強變化。配合勃氏鏡等附件,還能測定礦物的光性方位角與干涉色級。現代機型通常配備旋轉載物臺(帶刻度盤)、補償器及可調波長濾片,支持定量分析和高級成像功能。
在工業生產中,徠卡偏光顯微鏡可用于檢測塑料薄膜的取向度、液晶顯示器的排列缺陷;科研領域則常用于研究礦物薄片中的晶系鑒定、高分子材料的分子鏈排布。其高對比度的干涉圖像不僅呈現絢麗的色彩條紋,更能通過軟件實現偽彩增強與三維重建,輔助科研人員解析微觀世界的復雜結構。
相較于普通光學顯微鏡,徠卡偏光顯微鏡突破了平面成像的限制,賦予觀察者“透視”材料內部應力場的能力。無論是半導體晶圓缺陷檢測還是生物細胞代謝產物分析,它都是探索物質本質的重要工具,為材料性能優化與工藝改進提供關鍵依據。
無論是礦物、塑料和聚合物、藥物藥品或燃料和接合劑,DM2700P徠卡偏光顯微鏡都能幫助您觀察到感興趣的內容,完成您的研究或質量控制任務。
主要特點:
1、研究級全手動式專業偏光顯微鏡,適用于巖石薄片、玻璃、陶瓷、塑料、高分子材料等樣品的偏光特性高級觀察分析。
2、模塊化設計,可實現透射配置,和透反射配置。
3、整體光路支持25mm視野直徑。
4、5孔位手動物鏡轉盤,配接25mm直徑偏光專用物鏡。
5、反射光可實現明場、偏光、斜照明、干涉,透射光可實現明場、暗場、偏光、干涉、錐光觀察。
6、機身內置長壽命高亮度恒定色溫的透、反射照明電源,可提供手動光強變化的照明方式,透反射光路亮度都大于100W鹵素燈箱照明。
7、機身及其它光學部件可提供多種安放偏光專用鏡片位置,達到整體和諧。
8、可配接攝像頭,數碼相機等圖像采集設備,實現圖像存儲,配合分析軟件做圖像分析。
9、可配接冷熱臺、陰極發光儀、光度計、熒光配件等擴展配件。
DM2700P徠卡偏光顯微鏡除自動化以外,還能提供毫不遜色于LeicaDM4P的靈活性。在5倍可調中物鏡轉盤上使用5個物鏡獲取準確無誤的樣品信息;在22-mm視場中獲得大概覽圖;借助入射光觀測的UC-3D照明,獲得效果良好的對比度
DM2700P徠卡偏光顯微鏡技術參數:
| Leica DM2700 P |
尺寸和重量 | 取決于配置,約 18 kg 長度:410 mm (帶燈箱),寬度:331 mm,高度:505 mm (取決于鏡筒和配置) |
物鏡轉盤 | 5 倍 (M25),可調中 |
目鏡可見視場 (視野值) | 視野值 22 / 20 mm |
入射和透射照明 | 高功率 LED |
| 選配: |
| 鹵素光源 12V / 100W |
| Leica EL6000 熒光激發外部光源 |
| 貢燈箱 (水銀) |
入射光軸 | 手動,4 位轉盤,彩色編碼光圈輔助 (CDA) |
入射光 | 偏振對比 |
| 明場 |
| 微分干涉相襯 (DIC) |
| 熒光 |
| UC-3D 照明 |
透射光軸 | 手動聚光鏡操作,帶彩色編碼光圈輔助 (CDA) |
透射光 | 偏振對比 |
| 正像檢查 |
| 錐光偏振 |
| 明場 |
| 相襯 |
| 微分干涉相襯 (DIC) |
| 暗場 |
載物臺 | 360° 旋轉偏振臺,帶游標和電磁鎖 |
| 360° 旋轉偏振臺,帶游標、45° 卡位和電磁鎖 |
| 載物臺支架,適用于第三方載物臺 |
| 75x50 掃描臺 |
| 手動 xy 載物臺 |
| |
調焦驅動器 | 載物臺沖程 25-mm |
| 載物臺總沖程 40-50 mm,取決于載物臺和聚光鏡類型 |
| 2 檔焦點驅動器 (粗調/微調),1mm 刻度 |
| 3 檔焦點驅動器 (粗調/中調/微調),1 mm 和 4 mm 刻度,扭矩調節,以及可調頂部調焦限位 |
| 按需可提供電動版本 |
錐光 | 勃氏鏡反射塊 |
| 勃氏鏡模塊 (A/B 模塊) |
| 高級錐光學模塊 (手動) |
檢偏鏡 | 固定檢偏鏡 |
| 180° 旋轉檢偏鏡 |
| 360° 旋轉檢偏鏡 |
起偏鏡 | 360° 起偏鏡,用于入射光 |
| 360° 起偏鏡,用于透射光 |
| 固定起偏鏡,帶 Lambda 臺板 |
| 固定起偏鏡,具有 0°、45° 和 90° 位置 |
| 90° 起偏鏡,帶旋轉 Lambda 臺板 |
| 安裝在固定器中的起偏鏡,用于透射光 |
補償器 | l,l/4,石英臺面 (0-4 級),傾斜補償器 |
應用:
地球科學:地質學、巖石學、礦物學、晶體結構表征、石棉分析和煤分析(鏡質體反射率)。
質量控制:玻璃(應力雙折射或夾雜物)、塑料和聚合物(應力雙折射)、紡織品和纖維、電子顯示器和液晶檢查。